Métrologie et simulation

Métrologie et simulationCode de l'UE : HMEE314

Présentation

1. Métrologie hyperfréquences
* Analyseur de réseau : principe de fonctionnement
* Analyseur de paramètres X : principe de fonctionnement

2. Métrologie optique réflectométrie
* Capteurs optiques
* Capteurs réfractométriques
* Capteurs à réseaux de Bragg (sensibilités en température, déformation, pression, techniques d'interrogation)
* Gyroscopes (effet Sagnac, Gyrolaser, résonateurs en anneau)
* Ampèremètre (effet Faraday, montage polarimétrique, interférométrique)
* Thermomètres (pyromètre, effet Raman)
* Réflectométrie optique et mise en réseaux (domaine temporel fréquentiel de polarisation, techniques de multiplexage)

3. Techniques de simulations électromagnétiques
* Techniques de simulation
* Méthodes de simulation
** FDTD
** Fréquentiel
** Temporel
** Modal

4. Simulations assistées par ordinateurs
* Simulation assistée par ordinateurs de composants hyperfréquence. Approche de la conception assistée par ordinateur par l'utilisation des logiciels bases sur des "modèles électriques" (simulation de composants passifs et de circuits de types amplificateurs et oscillateurs) et sur des logiciels de simulation électromagnétique (simulation de filtres).

5. Utilisation des composants passifs
* Utilisation de l’abaque de smith et des paramètres S
* Mesures à l’analyseur de réseaux de composants passifs RF

Objectifs

* Approche de la Conception Assistée par Ordinateur par l'utilisation des logiciels basés sur des "modèles électriques " (simulation de composants passifs et de circuits de types amplificateurs et oscillateurs) et sur des logiciels de simulation électromagnétique (simulation de filtres).
* Entrevoir les difficultés de modélisation dues aux phénomènes de propagation HF.
* Principe des différentes méthodes de simulation de type électromagnétique : FDTD, fréquentiel, temporel, modal.
* Principe des mesures typiques utilisées en hyperfréquences et en optoélectronique:
** Analyseur de réseau
** Analyseur de paramètres X
** Réflectométrie
** Capteurs optiques
* Pratique
** Méthodologie de mesures typiques des hyperfréquences et de l'optoélectronique
** Comprendre et utiliser les logiciels de simulation électromagnétiques
** CAO hyperfréquence

Volume horaire

  • CM : 18
  • TD : 6
  • TP : 27

Syllabus

* V. Teppati, A. Ferrero, M. Sayed, "Modern RF and microwave measurement techniques", Cambridge University Press
* D. E. Root, J. Verspecht, J. Horn, M. Marcu, "X-Parameters : characterization, modeling and design of nonlinear RF and microwave components", Cambridge University Press

Diplômes intégrant cette UE

En bref

Crédits ECTS 5

Période de l'année
S3

Langue d'enseignement
fr

Contact(s)

Contact(s) administratif(s)

Annick PLAGELLAT (annick.plagellat @ umontpellier.fr)