Test des Circuits & Systèmes Intégrés

Test des Circuits & Systèmes IntégrésCode de l'UE : HMEE327

Présentation

• Test des circuits intégrés numériques.
• Modèles de fautes.
• Génération de vecteurs de test.
• Conception pour le test (DFT).
• Test intégré autonome (BIST).
• Test des Circuits Intégrés Analogiques.
• Test industriel (tests fonctionnels et paramétriques, caractérisation).

Objectifs

Savoir appréhender les problèmes liés au test industriel des circuits et systèmes intégrés ainsi que les méthodes permettant de réduire les coûts de ce test (génération de vecteurs, conception en vue du test, …). Appréhender les techniques de caractérisation et savoir déterminer les marges de fonctionnement et de performances de circuits intégrés numériques

Pré-requis recommandés

Connaissances en électroniques analogiques et numériques

Volume horaire

  • CM : 25.5
  • TD : 0
  • TP : 25.5

Syllabus

Essentials of Electronic Testing, M.L. Bushnell et V.D. Agrawal, Kluwer Academic Publishers

Diplômes intégrant cette UE

En bref

Crédits ECTS 5

Période de l'année
S3

Langue d'enseignement
fr

Contact(s)

Contact(s) administratif(s)

Arnaud VIRAZEL (arnaud.virazel @ umontpellier.fr)