Structure de formation
Service Commun de la Formation Continue , IUT Montpellier-Sète
Présentation
Cette Formation Courte est divisée en 3 parcours pour 3 niveaux de formation disponibles. Un ou plusieurs parcours peuvent être suivis sur la même session de formation :
- Niveau débutant : aspects fondamentaux et techniques liés à la technique de la diffraction des rayons X par la poudre et identifications de composés
- Niveau intermédiaire : aspects fondamentaux et techniques permettant l’extraction de paramètres structuraux
- Niveau confirmé : détermination structurales et application à différents types de solides (organiques, inorganiques et hybrides)
Objectifs
- Mettre en oeuvre des mesures de diffraction de rayons X sur des composés inorganiques, organiques ou hybrides sous forme pulvérulente
- Analyser un diffractogramme des rayons X sur poudre (qualitatif, (semi)quantitatif)
- Extraire des paramètres de maille, déterminer le groupe d'espace et réaliser un affinement par la méthode Le Bail
- Établir des modèles structuraux et les affiner par la méthode Rietveld
Programme
Formation intégrale : 45 H (6 jours)
Formation par niveau : 15 H (2 jours)
Le programme peut être adapté en fonction des besoins des stagiaires. Les solutions mises à l’étude lors de l’expérimentation pratique peuvent être issues de cas concrets proposés par les stagiaires proposé avant la formation.
NIVEAU DÉBUTANT : 2 JOURS (15 heures)
- Atomes - Interaction matière/Rayons X
- Production des rayons X pour la diffraction
- Techniques de diffraction des rayons X
- Rappel des notions de cristallographie : nature de l'échantillon (Cristal, Vitrocéramique, Amorphe)
- Présentation générale d'un diffractomètre de rayons X sur poudre en géométrie Bragg-Brentano
- Préparation d'échantillons et acquisition
- Utilisation des logiciels pour le traitement des données de diffraction (DIFRRAC.EVA) et utilisation des bases des données existantes (ICDD et COD).
NIVEAU INTERMÉDIAIRE : 2 JOURS (15 heures)
- Rappel des notions de cristallographie
- Principe de la mesure des diagrammes de diffraction & méthode Le Bail
- Préparation d'échantillons
- Acquisition (composés organiques, inorganiques ou hybrides)
- Affinement de diagrammes de diffraction X sur poudre de : composé monophasé, mélanges simples par utilisation de la méthode Le Bail
NIVEAU CONFIRMÉ : 2 JOURS (15 heures)
- Rappel des notions de cristallographie et paramètres instrumentaux
- Principe de méthode Rietveld : détermination de modèles structuraux et affinement de diffractogrammesaffinements de diffractogrammes et quantification de mélanges complexes
Admission
Public cible
Techniciens, ingénieurs, doctorants.
Droits de scolarité
Frais de formation :
- Formation intégrale
2 800 € Avec financement
1 200 € Autofinancement - Formation par niveau
1 200 € Avec financement
600 € Autofinancement
Pré-requis obligatoires
Prérequis : Être titulaire d’un niveau BAC+2
Expérience professionnelle recommandée : en lien avec le domaine de la chimie du solide