ECTS
5 crédits
Composante
Faculté des Sciences
Description
- Test des circuits intégrés numériques.
- Modèles de fautes.
- Génération de vecteurs de test.
- Conception pour le test (DFT).
- Test intégré autonome (BIST).
- Test des Circuits Intégrés Analogiques.
- Test industriel (tests fonctionnels et paramétriques, caractérisation).
Objectifs
Savoir appréhender les problèmes liés au test industriel des circuits et systèmes intégrés ainsi que les méthodes permettant de réduire les coûts de ce test (génération de vecteurs, conception en vue du test, …). Appréhender les techniques de caractérisation et savoir déterminer les marges de fonctionnement et de performances de circuits intégrés numériques
Pré-requis nécessaires
Connaissances en électroniques analogiques et numériques
Syllabus
Essentials of Electronic Testing, M.L. Bushnell et V.D. Agrawal, Kluwer Academic Publishers
Informations complémentaires
CM : 21h
TP : 21h