Test et Fiabilité des Circuits et Systèmes Intégrés

• Test des circuits intégrés numériques.
• Modèles de fautes.
• Génération de vecteurs de test.
• Conception pour le test (DFT).
• Test intégré autonome (BIST).
• Test des Circuits Intégrés Analogiques.
• Test industriel (tests fonctionnels et paramétriques, caractérisation).

Savoir appréhender les problèmes liés au test industriel des circuits et systèmes intégrés ainsi que les méthodes permettant de réduire les coûts de ce test (génération de vecteurs, conception en vue du test, …). Appréhender les techniques de caractérisation et savoir déterminer les marges de fonctionnement et de performances de circuits intégrés numériques

Connaissances en électroniques analogiques et numériques

Essentials of Electronic Testing, M.L. Bushnell et V.D. Agrawal, Kluwer Academic Publishers

CM : 21h

TP : 21h